：張輝高

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詳細(xì)說明

高低溫試驗(yàn)箱設(shè)備的用途介紹
該高低溫試驗(yàn)箱設(shè)備主要是針對(duì)于電工、電子產(chǎn)品，以及其原器件，及其它材料在高溫、低溫的環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)。該試驗(yàn)設(shè)備主要用于對(duì)產(chǎn)品按照標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定要求，在低溫、高溫、條件下，對(duì)產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測(cè)試，測(cè)試后，通過檢測(cè)，來判斷產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預(yù)定要求，以便供產(chǎn)品設(shè)計(jì)、改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗(yàn)用。

該設(shè)備主要由箱體、制冷系統(tǒng)、加熱系統(tǒng)、空氣循環(huán)系統(tǒng)以及控制系統(tǒng)組成。 箱體的外殼為采用冷軋鋼板靜電噴塑，內(nèi)膽采用不銹鋼板，箱門中間設(shè)大面積觀察窗，并配有觀察燈，使用戶可以清晰地看到試樣的試驗(yàn)情況。外型整體美觀大方。保溫層為硬質(zhì)聚氨脂發(fā)泡加上少量的超細(xì)玻璃棉，具有強(qiáng)度高，保溫性有好等特點(diǎn)。該設(shè)備主要溫度控制儀采用智能數(shù)顯溫濕度控制儀，人性化設(shè)計(jì)的操作方法，易學(xué)易用，并且不同功能檔次的儀表操作相互兼容。輸入采用數(shù)字校正系統(tǒng)，內(nèi)置常用熱電偶和熱電阻非線性校正表格，測(cè)量精確穩(wěn)定。具備位式調(diào)節(jié)和AI人工智能調(diào)節(jié)功能，0.2級(jí)精度，多種報(bào)警模式。升溫、降溫、加濕、去濕獨(dú)立，*的BTHC平衡調(diào)溫調(diào)濕方式。制冷系統(tǒng)采用全封閉進(jìn)口壓縮機(jī)組，機(jī)械式單級(jí)制冷或復(fù)迭低溫回路系統(tǒng)，全自動(dòng)控制與安全保護(hù)協(xié)調(diào)系統(tǒng)。加熱采用不銹鋼翅片加熱管。

該設(shè)備是按照下列標(biāo)準(zhǔn)之一或其結(jié)合為依據(jù)而制造的:
GB 10589-89 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB 10592-89 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB 11158-89 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備
GB2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法
GB2423.2-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法
GB2424.1-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則

1 、溫度范圍：-70℃、-40℃、-20℃～+100（150）℃
2 、溫度波動(dòng)度：&plsmn;0.5℃
3 、溫度偏差：≤2℃
4 、升降溫速率：0.7～1℃/min

1.電源超載、短路保護(hù)
2.接地保護(hù)
3.超溫保護(hù)
4.壓縮過壓、過載保護(hù)
5.為保護(hù)設(shè)備,所有報(bào)警均會(huì)自動(dòng)切斷電源，并發(fā)出聲訊提示。

1．溫度：15℃~35℃
2．相對(duì)濕度：不大于85%RH
3．周圍無強(qiáng)烈振動(dòng)、無強(qiáng)烈電磁場(chǎng)影響
4．周圍無高濃度粉塵及腐蝕性物質(zhì)
5．無陽(yáng)光直接照射或其它熱源直接輻射
6．周圍無強(qiáng)烈氣流，當(dāng)周圍空氣需要強(qiáng)制流時(shí)，氣流不應(yīng)直接吹到箱體上。
7．試驗(yàn)箱應(yīng)放置平穩(wěn)，保持水平。
8．試驗(yàn)箱的四周應(yīng)留有一定的距離，方便維修操作。

9．安裝場(chǎng)地通風(fēng)良好
10．良好接地

1．免費(fèi)上門安裝調(diào)試、培訓(xùn)操作人員。
2．產(chǎn)品自交付用戶使用之日起包修貳年，但下述情況除外：
a.需方操作失誤，出現(xiàn)人為故障和損壞；
b.其它不應(yīng)由供貨方承受的情況
3. 包修期滿后提供有償服務(wù)。